特許
J-GLOBAL ID：201303077863900876
表面状態分類装置、表面状態分類方法及び表面状態分類プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 工藤 理恵
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-111019
公開番号（公開出願番号）：特開2011-237369
特許番号：特許第5140699号
出願日： 2010年05月13日
公開日（公表日）： 2011年11月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 観測対象の表面を写した観測画像を入力する入力手段と、
入力された前記観測画像を記憶する記憶手段と、
前記観測画像を前記記憶手段から読み出して、前記観測画像の各画素の輝度値を一定の光学モデルに当て嵌めて、当て嵌められた前記一定の光学モデルを解くことにより、前記観測対象の表面状態を推定する当嵌推定手段と、
推定結果に基づいて前記観測対象の表面状態を分類する分類手段と、を有し、
前記当嵌推定手段は、
前記観測画像の各画素の輝度値I(x,y)を、前記観測対象の表面の任意の位置で拡散反射及び鏡面反射した反射光の強度(Kdcosθ+Ks(cosθ)n)(但し、Kd,Ks,θ,nは、それぞれ、前記任意の位置における、拡散反射係数,鏡面反射係数,前記観測対象の表面の法線ベクトルと前記反射光とのなす角,nは1以上の自然数)と定義し、前記定義からΣFf=1Σ(x,y)∈Ω[I(x,y)-Kdcosθ-Ks(cosθ)n]fの目的関数(但し、F,Ωは、それぞれ、前記観測画像の枚数,前記観測画像の一定画像領域)を導出し、前記観測画像の各画素の輝度値I(x,y)を前記目的関数に代入して最小化問題として解くことにより、前記拡散反射係数の値及び前記鏡面反射係数の値を推定し、
前記分類手段は、
前記拡散反射係数の推定値と前記鏡面反射係数の推定値とに基づいて、前記観測対象の表面状態を分類することを特徴とする表面状態分類装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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