特許
J-GLOBAL ID:201303086416027277

量子状態推定方法、量子状態推定装置及びコンピュータプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 河野 登夫 ,  河野 英仁
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-501679
特許番号:特許第4774523号
出願日: 2007年02月13日
請求項(抜粋):
【請求項1】入力部、記憶部及び制御部を備えたコンピュータが、物質の表面上のポテンシャルに基づいて、前記物質の表面上に吸着する原子又は分子の量子状態を推定する量子状態推定方法であって、 前記入力部にて前記物質の格子定数、前記物質の吸着面に平行な方向のブラベ・ベクトル及び垂直な方向の垂直ベクトルを受付ける第1ステップと、 該第1ステップにて受付けた格子定数、ブラベ・ベクトル及び垂直ベクトルに応じて、前記制御部が、前記物質の表面を仮想的に複数の領域に分割し、分割した各領域の情報を、各領域を識別する識別番号に対応付けて前記記憶部に記憶させる第2ステップと、 前記制御部が、前記記憶部に記憶した識別番号により識別される領域の情報に基づいて、各領域に対して正規分布関数を割り当て、各領域に割り当てた正規分布関数の線形結合を、前記物質の表面上におけるポテンシャルを含んだハミルトニアンの試行関数として設定する第3ステップと、 前記制御部が、前記第3ステップで設定した試行関数を用いた数値変分法により前記線形結合の各係数を算出する第4ステップと、 前記制御部が、該第4ステップで算出した前記線形結合の各係数を前記試行関数へ代入することにより、前記原子又は分子の量子状態を表す波動関数及び固有値を算出する第5ステップと を実行することを特徴とする量子状態推定方法。
IPC (1件):
G06F 19/00 ( 201 1.01)
FI (1件):
G06F 19/00 110
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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