文献
J-GLOBAL ID:201402229553005050
整理番号:14A0166722
クラックを含む高温超電導薄膜中の遮蔽電流密度を解析する精確で安定な数値手法
Accurate and Stable Numerical Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film Containing Cracks
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著者 (4件):
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資料名:
巻:
7
ページ:
2405024-2405024 (J-STAGE)
発行年:
2012年
JST資料番号:
U0045A
ISSN:
1880-6821
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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クラック・開口を有する高温超伝導(HTS)薄膜中の遮蔽電流密度を解析する数値手法を提示する。HTS薄膜がクラック・開口を有すると,Faradayの法則の積分形も境界条件として課される。積分形は弱い形で完全に組み込まれるため,自然な境界条件と見なされる。従って,弱い形は本質的境界条件のもとで解けばよい。しかし得られる数値解は,積分形を厳密には満足しない。この問題を解決するため,Faradayの法則を数値的に満足するようにクラックと開口の表面に沿って仮想的電圧を加える。この方法を用い,永久磁石法にクラックが及ぼす影響を数値解析した。(翻訳著者抄録)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
核融合装置
, 電線・ケーブル
タイトルに関連する用語 (7件):
タイトルに関連する用語
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