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J-GLOBAL ID：202002275153154414   整理番号：20A0566694

Nano-ARPESで直接観測する弱いトポロジカル絶縁体β-Bi₄I₄の側面ディラック電子状態

著者 (24件)： 野口亮 (東大 物性研) ,  高橋敬成 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  黒田健太 (東大 物性研) ,  越智正之 (大阪大 大学院) ,  白澤徹郎 (産業技術総合研) ,  BAREILLE C. (東大 物性研) ,  坂野昌人 (東大 物性研) ,  坂野昌人 (東大 工) ,  中山充大 (東大 物性研) ,  WATSON M. (Diamond Light Source) ,  矢治光一郎 (東大 物性研) ,  原沢あゆみ (東大 物性研) ,  岩澤英明 (Diamond Light Source) ,  DUDIN P. (Diamond Light Source) ,  KIM T. (Diamond Light Source) ,  HOESCH M. (Diamond Light Source) ,  KANDYBA V. (Elettra-Sincrotrone Trieste) ,  GIAMPIETRI A. (Elettra-Sincrotrone Trieste) ,  BARINOV A. (Elettra-Sincrotrone Trieste) ,  辛埴 (東大 物性研) ,  有田亮太郎 (東大 工) ,  有田亮太郎 (理研 CEMS) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  近藤猛 (東大 物性研)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム(Web)  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集(Web))
巻： 32nd  ページ： ROMBUNNO.3B004 (WEB ONLY)  発行年： 2019年01月09日 
JST資料番号： U1891A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *表面構造 ,  絶縁体 ,  角度分解分光法 ,  光電子分光法 ,  ヨウ化物 ,  ビスマス化合物 ,  *電子状態 ,  *トポロジカル絶縁体
準シソーラス用語： Dirac電子 ,  トポロジカル表面状態 ,  ナノARPES ,  *ヨウ化ビスマス ,  *角度分解光電子分光法 ,  *弱いトポロジカル絶縁体 ,  *表面電子状態

分類 (2件)： 表面の電子構造  (BM02080J) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (4件)： ARPES ,  観測 ,  トポロジカル絶縁体 ,  ディラック電子