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J-GLOBAL ID：202102257308425088   整理番号：21A3280489

電気光学サンプリングによる相対論的ピコ秒電子バンチの空間-時間プロファイル診断の研究【JST・京大機械翻訳】

Study of the spatio-temporal profile diagnostics for relativistic picosecond electron bunches by electro-optic sampling

著者 (10件)： Ota M. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Kan K. (Osaka University,The Institute of Scientific and Industrial Research,Osaka,Japan,567-0047) ,  Komada S. (Mie University,Department of Electrical and Electronic Engineering,Tsu, Mie,Japan,514-8507) ,  Arikawa Y. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Mag-Usara V. K. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Agulto V. C. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Wang Y.W. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Sakawa Y. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871) ,  Matsui T. (Mie University,Department of Electrical and Electronic Engineering,Tsu, Mie,Japan,514-8507) ,  Nakajima M. (Osaka University,Institute of Laser Engineering,Osaka,Japan,565-0871)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2021  号： IRMMW-THz  ページ： 1-2  発行年： 2021年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電気光学(EO)サンプリングにより,伝搬と半径方向に沿った相対論的電子バンチ周りの電場プロファイルを測定した。電子バンチとパルスプローブレーザの間のEO結晶上の到達時間を変えることによって,縦(時間)プロファイルを得て,一方,横方向(半径)プロファイルを電子ビーム経路の横方向シフトによって研究した。実験結果の妥当性を三次元粒子インセル計算により確認した。縦と横のビームサイズは,電子バンチの周りの測定された時空間電場分布によって得ることができることを実証した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電場 ,  電子ビーム ,  プローブ ,  半径方向 ,  *相対論 ,  パルス ,  三次元 ,  ピコ秒
準シソーラス用語： 電界分布 ,  *電子バンチ ,  到達時間 ,  ビームサイズ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (7件)： 光学 ,  サンプリング ,  ピコ秒 ,  電子バンチ ,  プロファイル ,  診断 ,  研究