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J-GLOBAL ID:202202288294079526   整理番号:22A1215670

Na-flux法成長速度制御によるGaN結晶再成長界面の新生ネジレ転位の抑制

Suppression of newly generated threading dislocations at the regrowth interface of a GaN crystal by growth rate control in the Na-flux method
著者 (11件):
資料名:
巻: 61  号:ページ: 055505 (6pp)  発行年: 2022年 
JST資料番号: G0520C  ISSN: 1347-4065  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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概要:先行研究において,フラックス膜コート法とマルチポイントシード法(FFC-MPST)を用いて,大口径・低転位密度のGaNウエハを得ることに成功した。生産コスト削減策として,成長したGaN結晶の一部を再利用し,Na-flux再成長により厚膜化することを目指している。しかし最近,Na-flux法によるGaN結晶のホモエピタキシャル成長において,成長界面にネジレ転位(TD)が発生することが判明した。本研究では,再成長時の急成長が介在物形成に寄与し,再成長界面でTDsが発生することを発見した。そこで,成長初期に低圧条件を設定し,低成長率を実現することで,TDの発生を抑制することに成功した。これらの知見は,高品質なGaNウェーハの生産性向上やGaNデバイスの普及に貢献するものである。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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半導体の結晶成長 

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