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J-GLOBAL ID：201702276384841946   Reference number：17A0500891

先端計測 研究を支える機器開発 日本化学会編 12 集束イオンビーム・レーザーイオン化法による単一微粒子の履歴解析装置

Author (2)： FUJII MASAAKI (東京工大) ,  SAKAMOTO TETSUO (工学院大)
Material： CSJ Current Review  (CSJカレントレビュー)
Issue： 23  Page： 132-138,1(4)  Publication year： Aug. 25, 2016 
JST Material Number： F1106A  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *aerosol(suspended solids) ,  particulate matter 2.5 ,  *fine particle ,  focused ion beam ,  *ion beam sputtering ,  *secondary ion mass spectrometry ,  *scanning electron microscope ,  sulfate ,  *photoionization ,  yellow sand
Semi thesaurus term： particulate matter 2.5 ,  単一微粒子 ,  TOF-SIMS ,  SEM (microscope) ,  共鳴多光子イオン化

JST classification (1)： Examination and measurement of air quality  (SB03040I)

Terms in the title (11)： 計測 ,  研究 ,  開発 ,  日本 ,  学会 ,  集束イオンビーム ,  レーザー ,  イオン化 ,  微粒子 ,  履歴 ,  解析装置