尾藤洋一

ビトウヨウイチ | Bitou Youichi

所属機関・部署：
ホームページURL (1件)： http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=Y41918384

研究分野 (3件)：計測工学 , 加工学、生産工学 , 光工学、光量子科学

研究キーワード (2件)：光計測 , 精密計測

競争的資金等の研究課題 (3件)：

論文 (71件)：

Yoshinori Takei, Souichi Telada, Hajime Yoshida, Youichi Bitou, Tokihiko Kobata. Challenges of an optical pressure standard in medium vacuum measurements. Measurement: Sensors. 2022. 22. 100371
Yohan Kondo, Akiko Hirai, Youichi Bitou. Two-point diameter calibration of a sphere using a micro-coordinate measuring machine at NMIJ. Metrologia. 2022. 59. 2. 024005-024005
Akiko Hirai, Youichi Bitou, Jaeseok Bae, Jungjae Park, Jonghan Jin. Precise measurement of the thickness of silicon wafers by double-sided interferometer and bilateral comparison. Metrologia. 2021. 58. 5. 054002-054002
Yoshinori Takei, Souichi Telada, Hajime Yoshida, Kenta Arai, Youichi Bitou, Tokihiko Kobata. In-situ measurement of mirror deformation using dual Fabry-Perot cavities for optical pressure standard. MEASUREMENT. 2021. 173
Yassir Arezki, Rong Su, Ville Heikkinen, François Leprete, Pavel Posta, Youichi Bitou, Christian Schober, Charyar Mehdi-Souzani, Bandar Abdulrahman Mohammed Alzahrani, Xiangchao Zhang, et al. Traceable Reference Full Metrology Chain for Innovative Aspheric and Freeform Optical Surfaces Accurate at the Nanometer Level. Sensors. 2021. 21. 4. 1103-1103

MISC (28件)：

特許 (1件)：

書籍 (2件)：

Handbook of optical metrology : principles and applications
CRC Press 2015 ISBN:9781466573598
Handbook of optical metrology : principles and applications
CRC 2009 ISBN:9780849337604

講演・口頭発表等 (47件)：

学位 (1件)：

受賞 (5件)：

所属学会 (2件)：

応用物理学会 , 精密工学会

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尾藤 洋一