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J-GLOBAL ID：200902000179000573   整理番号：92A0005674

オージェ電子・光イオンコインシデンス法を用いた内殻励起分子の崩壊過程の研究. II. BF₃

Decay processes of core-excited molecules as studied by Auger-electron-photoion cincidence measurement. II. BF₃.

著者 (6件)： 上田潔 (東北大) ,  千葉寿 (東北大) ,  佐藤幸紀 (東北大) ,  早石達司 (筑波大) ,  繁政英治 (高エネルギー物理研) ,  柳下明 (高エネルギー物理研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(年会)  (日本物理学会年会予稿集)
巻： 46th  号： 4  ページ： 57  発行年： 1991年09月 
JST資料番号： S0671A  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (6件)： オージェ電子 ,  内殻励起 ,  分子 ,  崩壊過程 ,  研究 ,  BF3