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J-GLOBAL ID：200902113051016530   整理番号：98A0364421

シリコン検出器中における高速軽イオンのエネルギー損失の揺らぎ

Energy Loss Straggling of Energetic Light Ions in Silicon Detectors.

著者 (9件)： 長谷部信行 (愛媛大 工) ,  新谷敏夫 (愛媛大 工) ,  村田健史 (愛媛大 工) ,  近藤光志 (愛媛大 工) ,  道家忠義 (早稲田大 理工研) ,  菊池順 (早稲田大 理工研) ,  高島健 (早稲田大 理工研) ,  逸見憲史 (早稲田大 理工研) ,  柏木利介 (神奈川大 工)
資料名： 愛媛大学工学部紀要  (Memoirs of the Faculty of Engineering, Ehime University)
巻： 17  ページ： 473-482  発行年： 1998年02月 
JST資料番号： F0035A  ISSN： 0285-6107  CODEN： EDGKAP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 理化学研究所のリングサイクロトロン加速器を利用して行われたエ...

シソーラス用語： *エネルギーストラグリング ,...

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分類 (1件)： チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失  (BK16100J)

タイトルに関連する用語 (4件)： シリコン検出器 ,  軽イオン ,  エネルギー損失 ,  揺らぎ