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文献J-GLOBAL ID:200902212373881367整理番号:09A0247823

Interfacial fracture toughness of Pb-free solders

Pbフリーはんだの面間破壊靭性

著者:HAYES S.m.(Advanced Packaging and Systems Integration, Freescale Semiconductor, Tempe, AZ 85284, USA)、HAYES S.m.(School of Materials, Fulton School of Engineering, Arizona State Univ., Tempe, AZ 85287-8706, USA)、CHAWLA N.(School of Materials, Fulton School of Engineering, Arizona State Univ., Tempe, AZ 85287-8706, USA)・・・
資料名:Microelectron Reliab 巻:49 号:3 ページ:269-287
発行年:2009年03月
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