特許
J-GLOBAL ID:200903062722618506

非破壊検査装置及びこの装置による検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松尾 憲一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-312092
公開番号(公開出願番号):特開2008-089562
出願日: 2006年11月17日
公開日(公表日): 2008年04月17日
要約:
【課題】金属体等の被検体中に存在する未知の欠陥の位置や形状をより高速に、かつ定量的に評価し、被検体の内部構造を可視化可能とした非破壊検査装置及びこの装置による検査方法を提供する。【解決手段】被検体にパルス状の磁場を印加して、この磁場に応じて被検体に誘導された磁場をセンサで検出する非破壊検査装置及びこの装置による検査方法であって、センサによって得られた計測信号とバックグラウンド信号から誘導成分信号を生成し、フーリエ変換した誘導成分信号の振幅をフーリエ変換したバックグラウンド信号の振幅で規格化して被検体の応答特性を特定する振幅情報を生成し、フーリエ変換した計測信号の偏角とフーリエ変換したバックグラウンド信号の偏角の差から被検体の応答特性を特定する位相情報を生成することにより、被検体の内部構造を反映した応答特性の振幅情報及び位相情報を得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
所定のパルス状の電流を出力する電源回路と、 前記電流に基づいて磁場を生成する印加コイルと、 前記磁場によって被検体に誘導した誘導磁場を検出して電気信号として出力するセンサと、 前記電源回路からの前記電流の出力に応じた前記電気信号の解析を行う解析部と を備えるとともに、 前記解析部には、 前記被検体で誘導された誘導磁場を前記センサで検出して得た電気信号である第1の信号と、前記被検体がない場合に前記印加コイルで生成された磁場を前記センサで検出して得たバックグラウンドの電気信号である第2の信号の情報を記憶する記憶手段と、 この記憶手段に記憶された第1の信号の情報と第2の信号の情報とから前記被検体の応答特性を特定する振幅情報と位相情報を生成する応答特性特定手段と を備えた非破壊検査装置において、 前記応答特性特定手段では、 前記第1の信号から前記第2の信号を減算して第3の信号を生成し、 この第3の信号をフーリエ変換するとともに、フーリエ変換された前記第3の信号の振幅を、フーリエ変換した前記第2の信号の振幅で規格化して前記振幅情報を生成し、 フーリエ変換した前記第1の信号における偏角とフーリエ変換した前記第2の信号における偏角の差から前記位相情報を生成する ことを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (1件):
G01N 27/90
FI (1件):
G01N27/90
Fターム (14件):
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BC05 ,  2G053BC14 ,  2G053CA05 ,  2G053CA10 ,  2G053CB07 ,  2G053CB13 ,  2G053CB17 ,  2G053CB22 ,  2G053CB25 ,  2G053CB29 ,  2G053DB02 ,  2G053DB19
引用特許:
出願人引用 (2件)
引用文献:
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