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J-GLOBAL ID：201702224162629393   整理番号：17A0093041

SX-PESとXASで研究されたCeO_1-xF_xBiS₂のCeの4f電子状態

Ce 4f Electronic States of CeO_1-xF_xBiS₂ Studied by SX-PES and XAS

著者 (20件)： WAKITA T. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  TERASHIMA K. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  HAMADA T. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  FUJIWARA H. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  MINOHARA M. (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  KOBAYASHI M. (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  HORIBA K. (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  KUMIGASHIRA H. (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  KUTLUK G. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  NAGAO M. (Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN) ,  WATAUCHI S. (Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN) ,  TANAKA I. (Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN) ,  DEMURA S. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  OKAZAKI H. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  TAKANO Y. (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  MIZUGUCHI Y. (Tokyo Metropolitan Univ., Hachioji, JPN) ,  MIURA O. (Tokyo Metropolitan Univ., Hachioji, JPN) ,  OKADA K. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  MURAOKA Y. (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  YOKOYA T. (Okayama Univ., Okayama, JPN)
資料名： Proceedings of the Hiroshima International Symposium on Synchrotron Radiation  (Proceedings of the Hiroshima International Symposium on Synchrotron Radiation)
巻： 20th  ページ： 106-107  発行年： 2016年 
JST資料番号： L6805A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *電子状態 ,  *セリウム ,  *セリウム化合物 ,  酸素化合物 ,  フッ素化合物 ,  ビスマス化合物 ,  硫化物 ,  *X線吸収分光法 ,  *X線光電子分光法

分類 (2件)： 表面の電子構造  (BM02080J) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (4件)： XAS ,  研究 ,  Ce ,  4f電子