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J-GLOBAL ID：201702281357526911   整理番号：17A0512030

18-30keV印加電圧によるPbLα/LβおよびAsKα/Kβの電子誘起X線強度比

Electron-Induced X-Ray Intensity Ratios of Pb Lα/Lβ and As Kα/Kβ by 18-30keV Applied Voltages

著者 (2件)： DAMDINSUREN Bolortuya (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWAI Jun (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 48  ページ： 346-351  発行年： 2017年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の主な目標はX線分析によるPbとAsの強度比の評価である。鉛とひ素の重複そしてこれらの比は毒性元素分析で重要である。Pb-As混合物の測定は,18-30keV電子電圧におけるJEOL JSM-5610LVS走査電子顕微鏡(SEM-EDX),そしてシリコンドリフト検出器(SDD)を用いて行われた。10.5keVにおける重複X線強度から混合物中のAs KαそしてPb Lαの強度を純元素中のPb Lα/LβそしてAs Kα/Kβの比から推定し,X線強度と励起電圧の相関を評価した。計算値は測定強度と比較した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *鉛 ,  *ヒ素 ,  *スペクトル線強度 ,  *元素分析 ,  混合物 ,  電子顕微鏡観察 ,  Si半導体検出器 ,  電圧 ,  *X線分析 ,  エネルギー分散X線分光分析
準シソーラス用語： 印加電圧 ,  走査電子顕微鏡法

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H)

引用文献 (11件)：

• K. G. McIntosh, D. Guimarães, M. J. Cusack, A. Vershinin, Z. W. Chen, K. Yan, P. J. Parsons: Evaluation of portable XRF instrumentation for assessing potential environmental exposure to toxic elements, Environmental Analytical Chemistry, 96, 15-37 (2016).
• L. Luo, B. Chu, Y. Li, T. Xu, X. Wang, J. Yuan, J.Sun, Y. Liu, Y. Bo, X. Zhan, S. Wang, L. Tang: Determination of Pb, As, Cd and trace elements in polluted soils near a lead-zinc mine using polarized X-ray fluorescence spectrometry and the characteristics of the elemental distribution in the area, X-Ray Spectrom., 41, 133-143 (2012).
• J. R. Siebera, A. Mortensenb: Validation and traceability of XRF and SEM-EDS elemental analysis results for solder in high reliability applications, X-Ray Spectrom., 43, 259-268 (2014).
• J. Kawai, H. Ishii: SEM-EDX-SR-XRF-XANES, J. Surf Anal., 12, 384-389 (2005).
• H. Ishii, J. Kawai: SEM-EDX with an SDD X-Ray Detector Installed onto the Scanning Electron Microscope, Adv. X-Ray. Chem. Anal., Japan, 37, 281-288 (2006).

タイトルに関連する用語 (7件)： 印加電圧 ,  PBL ,  ASK ,  電子 ,  誘起 ,  X線 ,  強度比