特許
J-GLOBAL ID：201103044704943106
超低膨張ガラス材料の線膨張係数評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (3件)：
草野 卓
, 稲垣 稔
, 中村 幸雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-231023
公開番号（公開出願番号）：特開2006-047196
特許番号：特許第4036268号
出願日： 2004年08月06日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 超音波材料特性解析装置で測定した漏洩弾性波特性により超低膨張ガラス材料の線膨張係数を評価する超低膨張ガラス材料の線膨張係数評価方法であり、
(a) 使用超音波周波数帯において、超低膨張ガラス材料の標準試料の縦波の音速と減衰係数、横波の音速と減衰係数、及び密度を測定する工程と、
(b) 上記音速、減衰係数、及び密度から上記標準試料に対する第1の漏洩弾性波特性を計算する工程と、
(c) 上記標準試料に対して漏洩弾性波干渉信号V(z)曲線を測定してそのV(z)曲線から第2の漏洩弾性波特性を求める工程と、
(d) 上記工程(b) で計算した上記第1の漏洩弾性波特性と上記工程(c) で上記V(z)曲線から求めた上記第2の漏洩弾性波特性の比を校正係数として求める工程と、
(e) 超低膨張ガラス材料の測定試料に対しV(z)曲線を測定してそのV(z)曲線から第3の漏洩弾性波特性を求める工程と、
(f) 上記測定試料について求めた上記第3の漏洩弾性波特性を上記校正係数で校正する工程と、
(g) 上記超低膨張ガラス試料の線膨張係数と、絶対校正された上記第3の漏洩弾性波特性との関係を求める工程と、
(h) 評価対象の超低膨張ガラス試料に対して第4の漏洩弾性波特性を測定し、上記関係を基にして、線膨張係数を評価する工程と、
を含むことを特徴とする超低膨張ガラス材料の線膨張係数評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
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