特許
J-GLOBAL ID:201103075498394438

可変ビーム形成回路のシステム同定方法ならびに出力制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 入戸野 巧 (外1名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-032292
公開番号(公開出願番号):特開2000-232314
特許番号:特許第3515407号
出願日: 1999年02月10日
公開日(公表日): 2000年08月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 入力信号をN個(N>1)に分配する手段と、分配した各信号の振幅と位相を制御する第1から第Nまでの振幅位相制御回路と、該振幅位相制御回路の各出力をN個の放射素子で構成されるアレーアンテナの各放射素子に供給してアレーアンテナを励振するための第1から第Nまでの出力端子を有する可変ビーム形成回路のシステム同定方法であって、下記(1)〜(5)に記載の手順によることを特徴とする可変ビーム形成回路のシステム同定方法。(1)可変ビーム形成回路の第1の出力端子に係る第1の振幅位相制御回路の設定状態に対する第1の出力に係る測定値のデータベースを作成する。このとき第1以外の振幅位相制御回路の設定状態は、所定の状態に設定する。(2)可変ビーム形成回路の第Nの出力端子まで順次上記(1)と同様の測定を繰り返し行い、全ての振幅位相制御回路の特性を測定して、これを初期測定とする。(3)第1から第Nの振幅位相制御回路の設定状態をランダムに与え、これを第1の設定状態として、可変ビーム形成回路の第1から第Nの出力を測定する。(4)第1の設定状態とは異なる第2の設定状態で、可変ビーム形成回路の第1から第Nの出力を測定する。これをM回繰り返し測定を行い結果をPとする(Pは行列である)。(5)設定状態に対する測定結果を初期測定によって作成されたデータベースと照らし合わせて得られた結果をHとする。可変ビーム形成回路の出力端子の干渉をG、定常的な干渉をBとして、“P=GH+B”と可変ビーム形成回路をモデル化し、演算処理を行ってG、Bを算出する(H、G、Bは、それぞれ行列である)。
IPC (3件):
H01Q 3/26 ,  H01Q 21/06 ,  H01Q 23/00
FI (3件):
H01Q 3/26 Z ,  H01Q 21/06 ,  H01Q 23/00
引用特許:
出願人引用 (7件)
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