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J-GLOBAL ID：201302278935340325   整理番号：13A0892769

スピン論理集積回路における基本ゲートの高信頼化技術

Highly Reliable Logic Primitive Gates for Spintronics-Based Logic LSI

著者 (15件)： 辻幸秀 (NEC) ,  根橋竜介 (NEC) ,  崎村昇 (NEC) ,  森岡あゆ香 (NEC) ,  本庄弘明 (NEC) ,  徳留圭一 (NEC) ,  三浦貞彦 (NEC) ,  鈴木哲広 (ルネサスエレクトロニクス) ,  深見俊輔 (東北大) ,  木下啓藏 (東北大) ,  羽生貴弘 (東北大) ,  遠藤哲郎 (東北大) ,  笠井直記 (東北大) ,  大野英男 (東北大) ,  杉林直彦 (NEC)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113  号： 1(ICD2013 1-23)  ページ： 41-46  発行年： 2013年04月04日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 磁壁移動型スピン素子を用いた不揮発性論理ゲートにおいてゲート内でスピン素子を冗長化させることで,1スピン素子に起こるエラー率をP(<<1)とした場合の論理ゲートのエラー率を~2・Pから~6・P²に低減した。また,冗長化による以下のオーバーヘッド,1)面積の増加,2)実効的な読み出し抵抗の低下,3)素子数増加による書き込み時の消費電力の増大,に関して検討した。(著者抄録)

シソーラス用語： 集積回路 ,  *論理回路 ,  論理素子 ,  冗長システム ,  スピントロニクス ,  双安定回路 ,  *改良 ,  *ゲート【半導体】
準シソーラス用語： スピントロニクス素子 ,  フリップフロップ回路 ,  *ロジックゲート ,  回路信頼性 ,  冗長化 ,  *信頼性向上 ,  論理集積回路

分類 (2件)： 磁電デバイス  (NC03100X) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (3件)： スピン ,  論理集積回路 ,  ゲート