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J-GLOBAL ID:201402229553005050   整理番号:14A0166722

クラックを含む高温超電導薄膜中の遮蔽電流密度を解析する精確で安定な数値手法

Accurate and Stable Numerical Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film Containing Cracks
著者 (4件):
資料名:
巻:ページ: 2405024-2405024 (J-STAGE)  発行年: 2012年 
JST資料番号: U0045A  ISSN: 1880-6821  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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クラック・開口を有する高温超伝導(HTS)薄膜中の遮蔽電流密度を解析する数値手法を提示する。HTS薄膜がクラック・開口を有すると,Faradayの法則の積分形も境界条件として課される。積分形は弱い形で完全に組み込まれるため,自然な境界条件と見なされる。従って,弱い形は本質的境界条件のもとで解けばよい。しかし得られる数値解は,積分形を厳密には満足しない。この問題を解決するため,Faradayの法則を数値的に満足するようにクラックと開口の表面に沿って仮想的電圧を加える。この方法を用い,永久磁石法にクラックが及ぼす影響を数値解析した。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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核融合装置  ,  電線・ケーブル 

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