特許
J-GLOBAL ID：201603015900523651
アフラトキシン定量方法、アフラトキシン定量装置、および、プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
酒井 宏明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-040403
公開番号（公開出願番号）：特開2012-177607
特許番号：特許第5856741号
出願日： 2011年02月25日
公開日（公表日）： 2012年09月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測定対象物からアフラトキシンを定量するアフラトキシン定量方法であって、
所定の励起波長範囲および所定の蛍光波長範囲で、照射する励起波長および観測する蛍光波長を段階的に変化させながら、前記測定対象物の蛍光強度を測定して、前記測定対象物の蛍光指紋情報を取得する蛍光指紋情報取得工程、および、
前記蛍光指紋情報取得工程にて取得した前記蛍光指紋情報に対して多変量解析を行い、当該多変量解析の結果に基づいて、前記測定対象物から前記アフラトキシンを定量するアフラトキシン定量工程、
を含み、
前記蛍光指紋情報は、3次元の情報を有する成分固有の蛍光情報であって、横軸を蛍光波長、縦軸を励起波長として各ポイントの蛍光強度を等高線プロットすることにより平面的に表現可能な蛍光情報であり、
前記蛍光指紋情報取得工程にて、
粉砕装置を用いて微粉砕に均一化された前記測定対象物の蛍光指紋情報を取得し、
更に、取得された前記蛍光指紋情報から目的とする蛍光指紋以外のノイズ情報を除去して、前記測定対象物に含まれる前記アフラトキシンの特徴を表す蛍光指紋情報のみを抽出し、
前記アフラトキシン定量工程にて、
抽出された前記蛍光指紋情報から得られる行列データを並び替えて、連続した1次元ベクトルに変更し、前記1次元ベクトルに変更された蛍光指紋情報に対して、前記多変量解析を行うことで前記アフラトキシンの量を推定し、当該推定された前記アフラトキシンの定量結果に基づいて、前記測定対象物から前記アフラトキシンを定量することを特徴とする、アフラトキシン定量方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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