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J-GLOBAL ID:201702270975343353   整理番号:17A0661105

SiC上のエピタキシャルグラフェンの構造と電子的性質に及ぼすPbインターカレーションの影響【Powered by NICT】

Effects of Pb Intercalation on the Structural and Electronic Properties of Epitaxial Graphene on SiC
著者 (14件):
資料名:
巻: 12  号: 29  ページ: 3956-3966  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2348A  ISSN: 1613-6810  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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SiC(0001)基板上に成長させたエピタキシャルな単一層グラフェンの構造及び電子特性に及ぼすPbインターカレーションの影響を,走査型トンネル顕微鏡(STM),非接触原子間力顕微鏡法,Kelvinプローブ力顕微鏡(KPFM),X線光電子分光法,角度分解光電子放出分光法(ARPES)法を用いて調べた。STMの結果は,グラフェン層の下のPb原子インターカレーションに誘起された秩序化モアレ超構造パターンの形成を示した。ARPES測定は,二つの付加的な直線的に分散πバンドの存在を明らかにし,その基礎となるSiC基板から緩衝層の剥離の証拠を提供する。Pbインターカレーションにより,Siの2p内殻準位スペクトルは界面領域でのPb-Si化学結合の存在のためのシグネチャを示し,低結合エネルギー側にバルクSiC成分の1.2eVのシフトを明らかにした。Pbインターカレーションは,グラフェンの正孔ドーピングを生じ,Fermi準位の上約0.1eVによるDirac点エネルギーのシフトをもたらし,ARPES測定によって明らかにされた。KPFM実験はPbインターカレーションによるグラフェン層のデカップリングは仕事関数増加を伴っていることを示した。仕事関数の増加はグラフェン層にSiC基板からの電子移動の抑制に帰因される。Pbインターカレーション構造は環境条件と1250°Cまでの高温で安定であることが分かった。これらの結果は,グラフェンキャップPb/SiCシステムの構築がグラフェンの電子特性を調整し,超伝導とスピントロニクスなどの興味ある物理的性質を調べる可能性を提供することを示した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (4件):
分類
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固体デバイス製造技術一般  ,  トランジスタ  ,  その他の無機化合物の薄膜  ,  炭素とその化合物 

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