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J-GLOBAL ID：200902102686519685   整理番号：98A0009011

金属および金属上LB超薄膜の表面プラズモン励起を利用した光学的評価

Evaluation of Metal Thin Films and LB Ultrathin Films Utilizing Surface Plasmon Excited in the Interfaces.

著者 (6件)： 青木裕介 (新潟大 大学院) ,  江部貴明 (新潟大 大学院) ,  加藤景三 (新潟大 大学院) ,  新保一成 (新潟大 工) ,  金子双男 (新潟大 工) ,  若松孝 (茨城工高専)
資料名： 電気学会誘電・絶縁材料研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： DEI-97  号： 79-85  ページ： 23-28  発行年： 1997年10月31日 
JST資料番号： Z0908B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 表面プラズモン励起を利用して,銀薄膜および銀薄膜上LB超薄膜...

シソーラス用語： 超薄膜 ,...
準シソーラス用語： LB膜 ,...

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分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

引用文献 (15件)：

• AGRANOVICH, V. M. eds. Surface Polaritons. 1982
• 金子双男. 全反射減衰法による金属薄膜上のアラキジン酸カドミウム塩LB超薄膜の構造評価. 電学論, A. 1995, 115, 1137
• KANEKO, F. Attenuated Total Refrection Properties and Structures in squarylium LB Films. Thin Solid Films. 1996, 284-285, 417
• KATO, K. Attenuated Total Refrection Properties and Structures in spiropyran LB Thin Films. Thin Solid Films. 1996, 284-285, 420
• KATO, K. Evaluation of C_<15>TCNQ Langmuir-Blodgett Ultrathin Films on Aluminum Thin Films by Attenuated Total Reflection Measurements. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, 5466

タイトルに関連する用語 (3件)： 超薄膜 ,  プラズモン励起 ,  光学的評価