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J-GLOBAL ID：200902112281385857   整理番号：94A0346563

状態遷移を用いた短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト

A Reduced Scan Shift Method for Sequential Circuit Testing Using State Transitions.

著者 (3件)： 樋上喜信 (大阪大 工) ,  梶原誠司 (大阪大 工) ,  樹下行三 (大阪大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 93  号： 506(ICD93 193-205)  ページ： 87-94  発行年： 1994年03月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スキャン設計された順序回路のテスト系列を短くするために,我々...

シソーラス用語： 状態推移行列 ,...
準シソーラス用語： テスト生成 ,...

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分類 (1件)： 論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 状態遷移 ,  スキャン ,  シフト ,  順序回路 ,  テスト