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J-GLOBAL ID：200902123528163692   整理番号：00A1063875

ラングミュアプローブを用いるヘリウム誘導結合プラズマ質量分析インターフェース内プラズマ測定

Measurements of plasma properties in an interface for helium ICP-MS using a Langmuir probe.

著者 (4件)： 沖野晃俊 (東京工大 大学院 理工学研究科) ,  金子大吾 (東京工大 大学院 理工学研究科) ,  薮田泰伸 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  堀田栄喜 (東京工大 大学院 総合理工学研究科)
資料名： 分析化学
巻： 49  号： 11  ページ： 869-874  発行年： 2000年11月05日 
JST資料番号： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： He ICPMSを製作するための第一段階として,He ICP...

シソーラス用語： *ICP-MS分析 ,...

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分類 (1件)： 質量分析  (CC03013N)

引用文献 (27件)：

• 1) R.S. Houk, V.A. Fassel, G.D. Flesch, H.J. Svec, A.L. Gray, C.E. Taylor: Anal. Chem., 52, 2283 (1980).
• 2) A. Montaser編: “誘導結合プラズマ質量分析法”, (2000), (化学工業日報社).
• 3) R.S. Houk: Anal. Chem., 58, 97A (1986).
• 4) H. Niu, R.S. Houk: Spectrochim. Acta, 51B, 779 (1996).
• 5) K.J. Jones, J.W. Carnahan: Spectrochim. Acta, 47B, 1229 (1992).

タイトルに関連する用語 (5件)： ラングミュアプローブ ,  ヘリウム ,  誘導結合プラズマ質量分析 ,  インターフェース ,  プラズマ測定