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J-GLOBAL ID：200902189613628387   整理番号：99A1016686

6MeV/amuの完全イオン化イオン衝撃による希ガス原子と簡単な分子の総イオン化断面積

Gross ionization cross sections for rare-gas atoms and simple molecules in 6-MeV/amu fully stripped. Ion impact.

著者 (8件)： MATSUO T (Tokyo Medical and Dental Univ., Tokyo, JPN) ,  KOHNO T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  MAKINO S (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  MIZUTANI M (Inst. Molecular Sci., Aichi, JPN) ,  TONUMA T (RIKEN, Saitama, JPN) ,  KITAGAWA A (National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN) ,  MURAKAMI T (National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN) ,  TAWARA H (National Inst. Fusion Sci., Gifu, JPN)
資料名： Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics  (Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics)
巻： 60  号： 4  ページ： 3000-3007  発行年： 1999年10月 
JST資料番号： D0323D  ISSN： 1050-2947  CODEN： PLRAAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 平行平板コンデンサー法を用い,6MeV/amuのHe<sup...

シソーラス用語： *分子-イオン衝突 ,...

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分類 (1件)： イオンと分子の衝突・散乱  (BH07040L)

タイトルに関連する用語 (6件)： イオン化 ,  イオン衝撃 ,  希ガス ,  原子 ,  分子 ,  イオン化断面積