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J-GLOBAL ID:201002247547582860   整理番号:10A0727699

ミリ波応用のための(InxGa1-xAs)m/(InAs)n超格子チャネル構造を用いたメタモルフィック高電子移動度トランジスタのRF性能向上

RF Performance Improvement of Metamorphic High-Electron Mobility Transistor Using (InxGa1-xAs)m/(InAs)n Superlattice-Channel Structure for Millimeter-Wave Applications
著者 (8件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 677-679  発行年: 2010年07月 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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低雑音ミリ波応用向けとして,(In0.53Ga0.47As)m/(InAs)n超格子チャネルを用いたメタモルフィックHEMTの作製に成功した。ゲート長80nmのデバイスで,ドレイン電流392mA/mm,最大相互コンダクタンス991mS/mmの極めて優れた性能を得た。普通のIn0.52Ga0.48Asチャネル構造に対する性能優位は,高い電子移動度と良好なキャリア閉じ込めに由来する。電流利得遮断周波数と最大発振周波数は,それぞれ304GHz,162GHzとなった。雑音性能については,16GHzで0.75dBの最小雑音指数,9.6dBの付随利得を示した。
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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