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J-GLOBAL ID：201002263856296982   整理番号：10A0116252

強誘電体薄膜の電歪決定法:ナノ秒オーダーの時分割シンクロトロン回折と電気分極のその場測定

著者 (4件)： 坂田修身 (高輝度光科学研究セ) ,  安井伸太郎 (東京工大 大学院) ,  山田智明 (東京工大 大学院) ,  舟窪浩 (東京工大 大学院)
資料名： 日本結晶学会年会講演要旨集  (日本結晶学会年会および会員総会講演要旨集)
巻： 2009  ページ： 26  発行年： 2009年 
JST資料番号： L2497A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 強誘電体 ,  *誘電体薄膜 ,  *電歪 ,  *時分割処理 ,  シンクロトロン放射 ,  *X線回折 ,  *分極 ,  ビスマス化合物 ,  鉄酸塩 ,  ルテニウム化合物 ,  酸素酸塩 ,  ストロンチウム化合物 ,  チタン酸ストロンチウム ,  格子歪 ,  ルテニウム酸塩 ,  *現場測定 ,  ビスマスフェライト
準シソーラス用語： *その場測定 ,  パルス電圧 ,  鉄酸ビスマス

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (9件)： 強誘電体薄膜 ,  電歪 ,  ナノ秒 ,  オーダー ,  時分割 ,  シンクロトロン ,  回折 ,  電気分極 ,  その場測定