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J-GLOBAL ID：201002288488305910   整理番号：10A0495888

超伝導物理的乱数発生器の統計的評価

Statistical Evaluation of a Superconductive Physical Random Number Generator

著者 (3件)： SUGIURA Tatsuro (Yokohama National Univ., Yokohama-shi, JPN) ,  YAMANASHI Yuki (Yokohama National Univ., Yokohama-shi, JPN) ,  YOSHIKAWA Nobuyuki (Yokohama National Univ., Yokohama-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E93-C  号： 4  ページ： 453-457  発行年： 2010年04月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 物理現象のランダム性を使って真の乱数列を発生する物理的乱数発生器は,暗号装置の分野で広く使われている。筆者等は,超伝導集積回路の高速動作と高感度性を利用して,10GHz以上の周波数で乱数を発生することができる超高速超伝導物理的乱数発生器を開発した。本研究で筆者等は,超伝導物理的乱数発生器により発生させた乱数列の品質を統計的に評価した。この統計的試験の性能は,国立標準技術研究所(NIST)により提供された試験法に基づいている。これらの統計的試験は,実用的な暗号装置における利用のため乱数列を評価するため行われた幾つかの基本的試験を構成している。筆者等は,SRL 2.5kA/cm² Nb標準プロセスで製作された超伝導物理的乱数発生器を使って,20,000ビットで構成する230の乱数列を発生させた。この発生させた乱数列は全ての基本的な統計的試験をパスした。この結果から,この超伝導乱数発生器は実用的装置で十分に利用できることが分かった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *乱数発生器 ,  *超伝導素子 ,  暗号装置 ,  乱数 ,  評価試験 ,  高速度 ,  物理現像
準シソーラス用語： 超高速

分類 (2件)： Josephson接合・素子  (BM04043E) ,  符号理論  (ND02030R)

引用文献 (15件)：

• FREIER, A. O. The SSL protocol-Version 3.0. 1996
• GUTTERMAN, Z. Analysis of the linux RNG. IEEE Symposium on Security and Privacy, 2006. 2006, 371-385
• MATSUMOTO, M. Mersenne Twister : A 623-dimensionally equidistributed uniform pseudorandom number generator. ACM Trans. Modeling and Computer Simulations. 1998, 8, 1, 3-30
• MATSUMOTO, M. 1200μm^2 physical random-number generators based on SiN MOSFET for secure smart-card application. IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, 2008. 2008, 414-624
• BUCCI, M. A high-speed oscillator-based truly random number source for cryptographic applications on smart card IC. IEEE Trans. Comput. 2003, 52, 4, 403-409

タイトルに関連する用語 (5件)： 伝導 ,  物理 ,  乱数発生器 ,  統計 ,  評価