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J-GLOBAL ID：201102250417552142   整理番号：11A1665715

X線光電子分光法で調べる有機半導体薄膜の内部の電子構造

著者 (10件)： 吉田弘幸 (京大 化研) ,  吉田弘幸 (JST-さきがけ) ,  伊藤英輔 (理研) ,  永野修作 (JST-さきがけ) ,  永野修作 (名大 院) ,  原正彦 (理研) ,  佐藤直樹 (京大 化研) ,  CHIN Whee Won (ハンヤン大) ,  HAN Jin Wook (ハンヤン大) ,  RAMSEY Michael G. (グラーツ大)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 60  号： 2 Disk1  ページ： ROMBUNNO.1O13  発行年： 2011年09月13日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *半導体薄膜 ,  *有機半導体 ,  *電子構造 ,  X線光電子分光法 ,  イオン化ポテンシャル ,  真空蒸着 ,  蒸着膜 ,  電気二重層 ,  極性分子 ,  分子配向 ,  窒素複素環化合物 ,  芳香族縮合化合物

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (3件)： トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム ,  銅フタロシアニン ,  2,9-ジメチル-4,7-ジフェニル-1,10-フェナントロリン

タイトルに関連する用語 (3件)： X線光電子分光法 ,  半導体薄膜 ,  電子構造