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J-GLOBAL ID：201202218747875564   整理番号：12A0423407

次期X線天文衛星ASTRO-H搭載硬X線撮像用シリコンストリップ検出器の放射線耐性評価

著者 (19件)： 林克洋 (広島大) ,  朴寅春 (広島大) ,  西野翔 (広島大) ,  安田創 (広島大) ,  大杉節 (広島大) ,  深沢泰司 (広島大) ,  水野恒史 (広島大) ,  高橋弘充 (広島大) ,  大野雅功 (広島大) ,  遠藤暁 (広島大) ,  田島宏康 (名古屋大) ,  田中孝明 (KIPAC, Stanford) ,  国分紀秀 (ISAS) ,  渡辺伸 (ISAS) ,  太田方之 (ISAS) ,  高橋忠幸 (ISAS) ,  中澤知洋 (東大) ,  内堀幸夫 (放医研) ,  北村尚 (放医研)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2012  号： 春季  ページ： 287  発行年： 2012年02月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *天文衛星 ,  *マイクロストリップ検出器 ,  硬X線 ,  X線望遠鏡 ,  ケイ素 ,  テルル化カドミウム ,  *耐放射線性 ,  *X線検出器 ,  *飛翔体 ,  *放射線検出器
準シソーラス用語： *ASTRO-H ,  HXI

分類 (1件)： 宇宙線・天体物理観測技術  (DB01000N)

タイトルに関連する用語 (9件)： X線天文衛星 ,  ASTRO-H ,  硬X線 ,  撮像 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  放射線耐性 ,  評価