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J-GLOBAL ID：201202275818534708   整理番号：12A1437678

熱刺激電流測定法による有機電気光学デバイスの熱安定性評価 II

著者 (11件)： MO Xuepeng (東京工大 理工) ,  杵村和彦 (東京工大 理工) ,  山田俊樹 (東京工大 理工) ,  大友明 (東京工大 理工) ,  MO Xuepeng (情通機構) ,  杵村和彦 (情通機構) ,  山田俊樹 (情通機構) ,  大友明 (情通機構) ,  田口大 (東京工大 理工) ,  間中孝彰 (東京工大 理工) ,  岩本光正 (東京工大 理工)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.13P-H2-1  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 電気光学効果 ,  *光学素子 ,  機能性高分子 ,  *ポリメタクリル酸メチル ,  高分子膜 ,  スピンコーティング ,  RFスパッタリング ,  熱刺激電流 ,  *熱安定性 ,  電流 ,  緩和時間 ,  PMMA膜 ,  電気光学高分子 ,  電気光学素子

分類 (2件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： ディスパースレッド1

タイトルに関連する用語 (5件)： 熱刺激電流 ,  測定法 ,  電気光学デバイス ,  熱安定性 ,  評価