文献

J-GLOBAL ID：201502200594060910   整理番号：15A1046782

XRD測定による(100)/(001)配向正方晶Pb(Zr,Ti)O₃膜の電界印加下の結晶構造変化の定量分析

著者 (7件)： 大島直也 (東京工大) ,  清水荘雄 (東京工大) ,  中島光雅 (東京工大) ,  江原祥隆 (東京工大) ,  及川貴弘 (東京工大) ,  内田寛 (上智大) ,  舟窪浩 (東京工大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 76th  ページ： ROMBUNNO.15P-2L-7  発行年： 2015年08月31日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  依存性 ,  *正方晶系 ,  *結晶構造解析 ,  X線回折 ,  *誘電分極 ,  *配向 ,  *電場依存性
準シソーラス用語： チタン酸ジルコン酸鉛 ,  ポーリング【分極】 ,  ポーリング処理 ,  *電界依存性 ,  分極処理

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

タイトルに関連する用語 (10件)： XRD ,  配向 ,  正方晶 ,  Pb ,  Zr ,  Ti ,  O3 ,  電界印加 ,  結晶構造 ,  定量分析