文献

J-GLOBAL ID：201502208272768749   整理番号：15A1045580

秩序相SrRu_0.5Cr_0.5O₃エピタキシャル薄膜の作製および電子状態評価

著者 (10件)： 山田佳補 (東大 大学院) ,  近松彰 (東大 大学院) ,  近松彰 (JST-CREST) ,  重松圭 (JST-CREST) ,  重松圭 (KAST) ,  簑原誠人 (KEK-IMSS) ,  組頭広志 (KEK-IMSS) ,  長谷川哲也 (東大 大学院) ,  長谷川哲也 (JST-CREST) ,  長谷川哲也 (KAST)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 76th  ページ： ROMBUNNO.14P-2H-15  発行年： 2015年08月31日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： エピタクシー ,  薄膜 ,  *電子状態 ,  クロム酸塩 ,  ストロンチウム化合物 ,  *ルテニウム化合物 ,  *X線吸収スペクトル ,  パルスレーザ蒸着 ,  ペロブスカイト型結晶
準シソーラス用語： X線回折パターン ,  エピタキシャル薄膜

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 秩序相 ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  作製 ,  電子状態 ,  評価