文献

J-GLOBAL ID：201602214217481530   整理番号：16A1028967

確率共鳴を用いたJosephsonランダムアクセスメモリの電力低減【Powered by NICT】

Power Reduction of Josephson Random Access Memory Using Stochastic Resonance

著者 (3件)： Kihara Ryosuke (Department of Electrical and Computer Engineering, Yokohama National University, Yokohama, Japan) ,  Yamanashi Yuki (Department of Electrical and Computer Engineering, Yokohama National University, Yokohama, Japan) ,  Yoshikawa Nobuyuki (Department of Electrical and Computer Engineering, Yokohama National University, Yokohama, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 26  号： 8  ページ： ROMBUNNO.1301704.1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導量子干渉素子(SQUID)は超伝導Josephsonランダムアクセスメモリ(RAM)システムにおけるメモリセルとして使用した。Josephson RAMでは,電力は主に駆動回路,ワード線およびビット線駆動標的メモリセルを選択することによって消費されている。確率共鳴現象を利用してSQUIDメモリセルの読出/書込動作の電力削減を検討した。SQUIDのノイズ支援状態遷移を用いて,メモリセルの読出/書込動作に必要な駆動電流を低減することができる。確率共鳴が効率的にアナログ回路シミュレーション熱雑音の影響を考慮したに基づいて発生する最適バイアスと雑音条件を検討した。シミュレーション結果によると,読出し/書込み動作の誤り率は10~-10の場合,読取/書込動作に必要な電力消費は,最適バイアスと雑音条件下で約20%減少させることができる。産総研2.5kA/cm~2Nb標準プロセス2を用いて1ビットrf-SQUIDメモリセルを設計し,室温装置から白色雑音を適用して細胞を試験した。データはメモリセルに記述し,正確に読み出される確率は種々のバイアスと雑音条件下で測定した。は実験的に観察された確率共鳴を持ち,読取/書込動作の電力消費は,従来のJosephson RAMと比較して80%まで削減される場合10 -5の誤り率を得た。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 超伝導 ,  白色雑音 ,  熱雑音 ,  *RAM【メモリ】 ,  誤り率 ,  記憶素子 ,  バイアス ,  電力消費 ,  *電力 ,  SQUID ,  回路シミュレーション ,  駆動回路
準シソーラス用語： ビット線 ,  *電力低減 ,  *確率共鳴 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 確率共鳴 ,  ランダムアクセスメモリ ,  電力低減