文献

J-GLOBAL ID：201602248885175616   整理番号：16A1177137

表面付着物のマッピング分析のためのレーザー/プラズマ脱離イオン化質量分析法の基礎特性

著者 (4件)： 相田真里 (東工大 未来研) ,  掛川賢 (東工大 未来研) ,  宮原秀一 (東工大 未来研) ,  沖野晃俊 (東工大 未来研)
資料名： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
巻： 65th  ページ： 309  発行年： 2016年08月31日 
JST資料番号： G0563B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 表面 ,  付着物 ,  *質量分析 ,  *プラズマ脱離質量分析 ,  レーザ照射 ,  *大気圧イオン化質量分析
準シソーラス用語： マッピング

分類 (1件)： 質量分析  (CC03013N)

タイトルに関連する用語 (9件)： 付着物 ,  マッピング ,  分析 ,  レーザー ,  プラズマ ,  脱離 ,  イオン化 ,  質量分析法 ,  基礎