特許
J-GLOBAL ID：201603012323462886

屈折率の検出方法及び光ファイバセンサシステム

発明者：
深野 秀樹

深野 秀樹 について

, 
田上 周路

田上 周路 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 岡山大学

国立大学法人 岡山大学 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-208299
公開番号（公開出願番号）：特開2016-080366
出願日： 2014年10月09日
公開日（公表日）： 2016年05月16日
要約：
【課題】エネルギーロスの少ない光ファイバセンサシステム、及び屈折率の検出方法を提供する。【解決手段】入射されたレーザ光を回折させることにより生じさせた回折光を全反射させながら導く、局在表面プラズモン共鳴を誘起する金属ナノ粒子をその外面に配置した導波体を、被検体内に配設して、全反射にともなって回折光に生じる位相変化に基づいて屈折率を検出する。光ファイバセンサシステムは、レーザ光を出射する投光器と、投光器に一端を接続してレーザ光を導く第1の光ファイバと、第1の光ファイバの他端を接続した長手状の局在表面プラズモン共鳴を誘起する金属ナノ粒子をその外面に配置した導波体と、第1の光ファイバと対向させて導波体に一端を接続した第2の光ファイバと、第2の光ファイバの他端を接続した受光器と、受光器から出力された信号を解析する解析器で構成する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
被検体の屈折率を検出する屈折率の検出方法において、 入射されたレーザ光を回折させることにより生じさせた回折光を全反射させながら導く、局在表面プラズモン共鳴を誘起する金属ナノ粒子をその外面に配置した導波体を被検体内に配設して、全反射にともなって回折光に生じる位相変化に基づいて屈折率を検出する屈折率の検出方法。
IPC (1件)：
G01N 21/41
FI (1件)：
G01N21/41 102
Fターム (15件)：
2G059AA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059BB11 ,  2G059CC13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)
  • 第73回応用物理学会学術講演会 講演予稿集, 20120911, 13p-C6-3

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