抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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BISTに基づく電界試験インテリジェント自律システムの機能的安全性を保証するための有望な方法である。BISTのための少ないランダムパターンを用いた故障検出率を改善するために,多サイクル試験中にいくつかのフリップフロップ(FFs)を連続的に有用である。本論文では,回路の構造を評価することにより,多サイクル試験における故障検出強化FFを選択するための方法論を提案した。ITC99ベンチマークの実験結果と実際の電子制御ユニット(ECU)回路は故障検出率改善とランダムパターン還元に提案された方法の有効性を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】