研究者
J-GLOBAL ID:200901007368644970   更新日: 2023年01月25日

高橋 寛

タカハシ ヒロシ | Takahashi Hiroshi
所属機関・部署:
職名: 教授,工学部長
ホームページURL (1件): http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
研究分野 (1件): 計算機システム
研究キーワード (14件): 組込みシステム ,  システムの高信頼化 ,  故障モデル.ハードウェア記述言語 ,  故障診断 ,  テスト生成 ,  ディペンダブルコンピューティング ,  情報システムの設計とテスト ,  embedded system ,  hardware description language ,  fault modeling ,  fault diagnosis ,  test generation ,  dependable computing ,  design and test for computer systems
競争的資金等の研究課題 (20件):
  • 2022 - 2025 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
  • 2019 - 2022 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
  • 2019 - 2022 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
  • 2016 - 2020 高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究
  • 2016 - 2019 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発
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論文 (163件):
  • 岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏. 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価. 電子情報通信学会技術報告. 2022. DC2022. 64. 168-173
  • Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi. Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation. 2022
  • Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima. Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems. 2022
  • Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja. Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults. 2022 37th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC). 2022
  • 白石忠明, 高橋寛, WANG Senling. ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法. 情報科学技術フォーラム講演論文集. 2022. 21st
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MISC (210件):
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特許 (4件):
書籍 (4件):
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications
    Springer 2015
  • はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
    日経BPコンサルティング 2014 ISBN:4864430713
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008 ISBN:4274206327
  • 新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ)
    日新出版 2002 ISBN:4817302070
講演・口頭発表等 (231件):
  • マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
    (電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021)
  • メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装
    (第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 2020)
  • ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価
    (2020年電子情報通信学会総合大会 2020)
  • マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
    (電子情報通信学会技術研究報告 2020)
  • 車載組込みシステム技術者の育成~enPiT-Pro Embでの教育実践~-招待論文
    (デジタルプラクティス 2020)
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Works (4件):
  • 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究
    2009 - 2011
  • 故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発
    2008 - 2008
  • 遅延故障診断に関する研究
    2007 - 2008
  • テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
    2006 -
学位 (1件):
  • 博士(工学)
委員歴 (9件):
  • 2020/04 - 現在 エレクトロニクス実装学会 マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員
  • 2018/08 - 現在 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会
  • 2018/06 - 現在 日本信頼性学会 評議員
  • 2009/04 - 現在 IEEE アジアテストシンポジウムSC
  • 2020/06 - 2022/05 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長
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受賞 (4件):
  • 2020/01 - IEEE CASS 四国チャプタ主催アワード
  • 2018/07 - 日本学術振興会 特別研究員等の書面審査における貢献
  • 2016/05 - 日本信頼性学会 高木賞
  • 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
所属学会 (10件):
日本信頼性学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  Information Processing Society of Japan ,  Information and Communication Engineers ,  The Institute of Electornics
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