研究者
J-GLOBAL ID：200901007368644970   更新日: 2024年11月21日

高橋 寛

タカハシ ヒロシ | Takahashi Hiroshi
所属機関・部署：
愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻

愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻 について


職名： 教授,副学長
ホームページURL (1件)： http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
研究分野 (1件)： 計算機システム
研究キーワード (14件)： 組込みシステム ,  システムの高信頼化 ,  故障モデル.ハードウェア記述言語 ,  故障診断 ,  テスト生成 ,  ディペンダブルコンピューティング ,  情報システムの設計とテスト ,  embedded system ,  hardware description language ,  fault modeling ,  fault diagnosis ,  test generation ,  dependable computing ,  design and test for computer systems
競争的資金等の研究課題 (21件)：
  • 2023 - 2026 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法
  • 2022 - 2025 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
  • 2019 - 2022 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
  • 2019 - 2022 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
  • 2016 - 2020 高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究
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論文 (181件)：
  • Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi, et al. Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs. 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia). 2024. 1-6
  • Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen. Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP). 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC). 2024. 1-6
  • Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI. Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device. IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems. 2023. E106-D. 10
  • Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni. SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG. DFT. 2023. 1-3
  • WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2023. 122. 393(DC2022 82-92)
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MISC (226件)：
  • 塩谷晃平, 西川竜矢, WEI Shaoqi, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2024. 123. 389(DC2023 94-103)
  • 勝田 順一, 中原 真也, 高橋 寛. 正課としての課題解決型教育(分野融合型)実施における評価方法の改善と指導方法の明確化-Improvement of Evaluation Method of Problem-based Learning Type Education (Interdisciplinary Fusion Type) as a Regular Curriculum and Clarification of Educational Method. 大学教育実践ジャーナル = Journal of faculty and staff development in higher education. 2022. 21. 51-58
  • 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏. エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2022. 2022
  • 塩谷晃平, WEI S.Q., WANG S., 甲斐博, 高橋寛. グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2022. 2022
  • 中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. マルチサイクルテストによるテストパターン削減. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2022. 2022
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特許 (4件)：
書籍 (4件)：
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications
    Springer 2015
  • はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
    日経BPコンサルティング 2014 ISBN:4864430713
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008 ISBN:4274206327
  • 新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ)
    日新出版 2002 ISBN:4817302070
講演・口頭発表等 (252件)：
  • グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法
    (電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2023)
  • NS形電気転てつ機のフィールドデータ分析と状態基準保全に関する研究
    (電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2023)
  • ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証
    (エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2023)
  • 地方大学におけるSociety5.0に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦
    (産学官連携ジャーナル(Web) 2022)
  • シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価
    (電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022)
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Works (4件)：
  • 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究
    2009 - 2011
  • 故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発
    2008 - 2008
  • 遅延故障診断に関する研究
    2007 - 2008
  • テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
    2006 -
学歴 (2件)：
  • 1988 - 1990 佐賀大学 大学院理工学研究科 修士課程電子工学専攻
  • 1984 - 1988 佐賀大学 理工学部 電子工学科
学位 (1件)：
  • 博士(工学)
経歴 (7件)：
  • 2024/04 - 現在 愛媛大学 機構長・副学長
  • 2010/10 - 現在 愛媛大学大学院 教授
  • 2018/04 - 2024/03 愛媛大学 工学部 工学部長
  • 2000/04 - 2010/03 愛媛大学 大学院理工学研究科 准教授
  • 2000/05 - 2001/03 米国ウィスコンシン大学 マディソン校 在外研究員
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委員歴 (10件)：
  • 2024/03 - 現在 電子情報通信学会 フェロー
  • 2020/04 - 現在 エレクトロニクス実装学会 マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員
  • 2018/08 - 現在 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会
  • 2018/06 - 現在 日本信頼性学会 評議員
  • 2009/04 - 現在 IEEE アジアテストシンポジウムSC
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受賞 (5件)：
  • 2024/03 - 電子情報通信学会 フェロー称号
  • 2020/01 - IEEE CASS 四国チャプタ主催アワード
  • 2018/07 - 日本学術振興会 特別研究員等の書面審査における貢献
  • 2016/05 - 日本信頼性学会 高木賞
  • 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
所属学会 (10件)：
日本信頼性学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  Information Processing Society of Japan ,  Information and Communication Engineers ,  The Institute of Electornics
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