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J-GLOBAL ID：201702287729267474   整理番号：17A0689194

表面グラフト化ポリアスパルテート薄膜の主鎖らせん反転に伴う垂直配向構造の温度依存性と表面電位特性

著者 (3件)： 松園拓人 (東京工大 大学院) ,  古屋秀峰 (東京工大) ,  安藤慎治 (東京工大)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 66  号： 1  ページ： ROMBUNNO.2Pe055  発行年： 2017年05月15日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： グラフト共重合 ,  表面反応 ,  *グラフト化【化学修飾】 ,  高分子薄膜 ,  *ポリアスパラギン酸エステル ,  温度依存性 ,  *表面電位 ,  *分子配向 ,  基板 ,  ブロック共重合 ,  構造相転移 ,  FTIR分光法 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  二次構造 ,  表面グラフト化
準シソーラス用語： ポリアスパルテート

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (9件)： 表面グラフト化 ,  ポリアスパルテート ,  薄膜 ,  主鎖 ,  らせん ,  反転 ,  垂直配向 ,  温度依存性 ,  表面電位