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J-GLOBAL ID：201802241313913983   整理番号：18A1888008

少数キャリアライフタイムによる半導体プロセスの評価手法の提案

著者 (20件)： 角嶋邦之 (東京工大) ,  星井拓也 (東京工大) ,  渡辺正裕 (東京工大) ,  執行直之 (東京工大) ,  古川和由 (東京工大) ,  更屋拓哉 (東大) ,  高倉俊彦 (東大) ,  伊藤一夫 (東大) ,  福井宗利 (東大) ,  鈴木慎一 (東大) ,  竹内潔 (東大) ,  宗田伊理也 (東京工大) ,  若林整 (東京工大) ,  沼沢陽一郎 (明治大) ,  小椋厚志 (明治大) ,  西澤伸一 (九大) ,  筒井一生 (東京工大) ,  平本俊郎 (東大) ,  大橋弘通 (東京工大) ,  岩井洋 (東京工大)
資料名： 電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集(CD-ROM)  (Proceedings of Annual Conference of Electronics, Information and Systems Society, I.E.E. of Japan)
巻： 2018  ページ： ROMBUNNO.TC14-5  発行年： 2018年09月05日 
JST資料番号： L2171B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *キャリア寿命 ,  *半導体プロセス ,  方式 ,  素子構造 ,  PN接合 ,  ダイオード ,  特性 ,  計算機シミュレーション ,  *性能評価 ,  ダイオード特性 ,  *少数キャリア寿命 ,  評価方法 ,  計算機利用 ,  利用
準シソーラス用語： 評価手法

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 少数キャリア ,  半導体プロセス ,  評価手法 ,  提案