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J-GLOBAL ID：201802283325737320   整理番号：18A1009801

低温プラズマ/低出力レーザーによる表面付着物脱離のラマン分光法及びX線光電子分光法による検証

著者 (7件)： 岡本悠生 (東京工大 未来産技研) ,  吉田真優子 (東京工大 未来産技研) ,  河野聡史 (東京工大 未来産技研) ,  岩井貴弘 (関西学院大 理工) ,  宮原秀一 (東大 大学院理学系研究科) ,  千葉光一 (関西学院大 理工) ,  沖野晃俊 (東京工大 未来産技研)
資料名： 日本分光学会年次講演会  (Annual Meeting of the Spectroscopical Society of Japan)
巻： 2018  ページ： 124  発行年： 2018年 
JST資料番号： L0419B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *プラズマ ,  レーザ ,  *付着物 ,  *Ramanスペクトル ,  *X線光電子スペクトル ,  *イオン化 ,  *レーザ照射 ,  *脱着 ,  *質量分析 ,  ポリテトラフルオロエチレン ,  ポリエチレンテレフタレート ,  ナイロン6 ,  アルミニウム ,  銅 ,  鉄 ,  レーザRamanスペクトル ,  *低温プラズマ ,  低出力レーザ ,  芳香族ポリエステル
準シソーラス用語： 表面自由エネルギー

分類 (2件)： 有機物質の物理分析一般  (CC03031B) ,  界面化学一般  (CB12010J)

物質索引 (1件)： サリチル酸フェニル

タイトルに関連する用語 (7件)： 低温プラズマ ,  低出力レーザー ,  付着物 ,  脱離 ,  ラマン分光法 ,  X線光電子分光法 ,  検証