文献

J-GLOBAL ID：201902221743903904   整理番号：19A0593144

ナノ顕微光電子分光で調べる弱いトポロジカル絶縁体β-Bi₄I₄の側面ディラック電子状態

著者 (17件)： 野口亮 (東大 物性研) ,  高橋敬成 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  黒田健太 (東大 物性研) ,  越智正之 (大阪大 大学院) ,  白澤徹郎 (産業技術総合研) ,  BAREILLE Cedric (東大 物性研) ,  坂野昌人 (東大 物性研) ,  坂野昌人 (東大 工) ,  中山充大 (東大 物性研) ,  矢治光一郎 (東大 物性研) ,  原沢あゆみ (東大 物性研) ,  岩澤英明 (Diamond Light Source) ,  SHIN Shik (東大 物性研) ,  有田亮太郎 (東大 工) ,  有田亮太郎 (理研) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  近藤猛 (東大 物性研)
資料名： 日本表面真空学会学術講演会講演要旨集  (日本表面真空学会学術講演会要旨集)
巻： 2018  ページ： 34  発行年： 2018年11月19日 
JST資料番号： L1308B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *光電子分光法 ,  顕微分光分析 ,  *トポロジカル絶縁体 ,  *ヨウ化物 ,  *ビスマス化合物 ,  電子 ,  *電子構造 ,  低次元系 ,  角度分解分光法 ,  Dirac電子 ,  ARPES
準シソーラス用語： *光電子分光 ,  顕微分光法 ,  擬一次元系 ,  角度分解光電子分光

分類 (1件)： 表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光電子分光 ,  トポロジカル絶縁体 ,  ディラック電子