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J-GLOBAL ID：201902234518692331   整理番号：19A2619257

薄型フレキシブルSi太陽電池へ向けたスライスダメージ評価

著者 (12件)： 大西康平 (明治大 理工) ,  横川凌 (明治大 理工) ,  横川凌 (日本学術振興会) ,  西原達平 (明治大 理工) ,  神岡武文 (明治大 理工) ,  中村京太郎 (豊田工大) ,  大下祥雄 (豊田工大) ,  河津知之 (コマツNTC) ,  長井俊樹 (コマツNTC) ,  山田昇 (長岡技科大) ,  宮下幸雄 (長岡技科大) ,  小椋厚志 (明治大 理工)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.20a-E314-6  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 【背景と目的】現在、結晶シリコン太陽電池のスライスプロセスにおいて、マルチダイヤモンドワイヤーソーを用いた技術が主流となっている[1]。太陽電池におけるスライスプロセスではウェーハの薄型化が課題であるが、薄型化に伴いウェーハの破損が懸念され...【本文一部表示】

シソーラス用語： *太陽電池 ,  *ケイ素 ,  *フレキシブル基板 ,  スライス ,  損傷 ,  光ルミネセンス ,  Raman分光法

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (6件)： 薄型 ,  Si ,  太陽電池 ,  スライス ,  ダメージ ,  評価