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J-GLOBAL ID：201902287631669435   整理番号：19A2598819

4H-SiCエピタキシャル層によるX線検出に関する検討

著者 (6件)：
宮田篤希

宮田篤希 について

(東京工大)

東京工大 について

, 
齋藤大樹

齋藤大樹 について

(東京工大)

東京工大 について

, 
星井拓也

星井拓也 について

(東京工大)

東京工大 について

, 
若林整

若林整 について

(東京工大)

東京工大 について

, 
筒井一生

筒井一生 について

(東京工大)

東京工大 について

, 
角嶋邦之

角嶋邦之 について

(東京工大)

東京工大 について


資料名：
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) について


巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.19a-C213-2  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
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分類 (2件)：
分類
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X線技術 
(BA02060D)

X線技術 について

,  基礎放射線医学 
(GC04012H)

基礎放射線医学 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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4H-SiC

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エピタキシャル層

エピタキシャル層 について

, 
X線検出

X線検出 について


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