特許
J-GLOBAL ID:201903003683471803

解析方法、解析プログラム、および解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 棚井 澄雄 ,  西澤 和純 ,  春田 洋孝 ,  荒 則彦 ,  酒井 太一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-007729
公開番号(公開出願番号):特開2019-128161
出願日: 2018年01月19日
公開日(公表日): 2019年08月01日
要約:
【課題】簡易、高速、かつ正確に解析対象の特性を解析することができる解析方法を提供する。【解決手段】本発明の解析方法は、所定の周波数の交流電気信号を第1コイルに印加して解析対象を励磁し、前記解析対象に渦電流を生成し、前記渦電流により発生した磁界により、第2コイルに発生した電圧の振幅に応じた第1電気的状態量、および前記交流電気信号と前記電圧との位相差に応じた第2電気的状態量を求め、前記第1電気的状態量および前記第2電気的状態量に基づいて、前記解析対象の厚さ方向の特性を解析する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
所定の周波数の交流電気信号を第1コイルに印加して解析対象を励磁し、前記解析対象に渦電流を生成し、 前記渦電流により発生した磁界により、第2コイルに発生した電圧の振幅に応じた第1電気的状態量、および前記交流電気信号と前記電圧との位相差に応じた第2電気的状態量を求め、 前記第1電気的状態量および前記第2電気的状態量に基づいて、前記解析対象の厚さ方向の特性を解析する、解析方法。
IPC (1件):
G01N 27/90
FI (1件):
G01N27/90
Fターム (15件):
2G053AA11 ,  2G053AA12 ,  2G053AB21 ,  2G053BA02 ,  2G053BA15 ,  2G053BA21 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA18 ,  2G053CB10 ,  2G053CB25 ,  2G053DA01 ,  2G053DA09
引用特許:
審査官引用 (9件)
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引用文献:
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