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J-GLOBAL ID：202002221007751192   整理番号：20A0586244

CdTeピクセル検出器と放射光白色X線による応力評価への挑戦

著者 (5件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  城鮎美 (量子科学技術研究開発機構) ,  豊川秀訓 (高輝度光科学研究セ) ,  佐治超爾 (高輝度光科学研究セ) ,  菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構)
資料名： 日本保全学会学術講演会要旨集
巻： 16th  ページ： 595-600  発行年： 2019年07月24日 
JST資料番号： F2041A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *テルル化カドミウム ,  *ピクセル検出器 ,  *X線回折 ,  *応力測定 ,  固体粒子 ,  斑点分析 ,  *多重露光 ,  *シンクロトロン放射 ,  試料調製 ,  オーステナイト系ステンレス鋼 ,  焼なまし ,  歪 ,  鉛 ,  タングステン ,  固有X線 ,  最適条件 ,  波長依存性 ,  歪計 ,  測定データ ,  化合物半導体 ,  SUS316L ,  二次元半導体検出器 ,  *二重露光 ,  *計測

分類 (1件)： 固体の機械的性質一般  (BL01021C)

引用文献 (6件)：

• P.J. Withers, ”Use of synchrotron X-ray radiation for stress measurement”, Analysis of Residual stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation, Ed. by M.E. Fitzpatrick and A. Lodini, Taylor & Francis, pp.170-218 (2003).
• 鈴木賢治,菖蒲敬久,城鮎美,張朔源,”2次元検出器を利用した粗大粒の内部応力評価”,材料,Vol.63, No.7, pp.527-532(2014).
• 鈴木賢治,菖蒲敬久,城鮎美,”二重露光法による粗大粒材の応力測定”,材料, Vol.68, No.4, pp.312-317(2019).
• K. Suzuki, T. Shobu, A. Shiro and S. Zhang, ” Evaluation of welding residual stresses using diffraction spot trace method , Advanced Materials Research, Vol.996, pp.76-81 (2014).
• 柴野純一,菖蒲敬久,鈴木賢治,平田智之,金子洋,小林道明,”高エネルギー放射光白色X線を用いた材料内部ひずみ測定”,材料, Vol.56, No.10, pp.985-992(2007).

タイトルに関連する用語 (6件)： CdTe ,  ピクセル検出器 ,  放射光 ,  白色X線 ,  応力 ,  評価