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J-GLOBAL ID：201902230885211740   整理番号：19A1367858

二重露光法による粗大粒材の応力測定

Stress Measurement of Coarse Grains Using Double Exposure Method

著者 (3件)： 鈴木賢治 (新潟大学 教育学部) ,  菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構 原子力科学研究部門 物質科学研究センター) ,  城鮎美 (量子科学技術研究開発機構 量子ビーム科学研究部門 関西光科学研究所 放射光科学研究センター)
資料名： 材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)
巻： 68  号： 4  ページ： 312-317(J-STAGE)  発行年： 2019年 
JST資料番号： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 粗大粒材の新しいX線応力測定法として,二重露光法(DEM)を提案した。入射ビームと局所回折ビームから回折角を得ることができた。各X線ビームを,DEMの2θアーム上の線形運動ステージの面積検出器で測定した。DEMの妥当性を調べるために,塑性曲げ試験片の残留応力を測定した。さらに,押込試験片の残留応力分布を測定した。DEMによる結果は,有限要素法によってシミュレーションした結果と類似していた。その結果,DEMは粗大粒材のX線応力測定法として有用である。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *多重露光 ,  *粒状材 ,  *X線応力測定 ,  大口径 ,  シンクロトロン放射 ,  残留応力 ,  有限要素法 ,  測定データ ,  予測誤差 ,  入射角 ,  曲げ荷重 ,  塑性変形 ,  圧縮荷重 ,  アルミニウム合金 ,  平面応力
準シソーラス用語： *二重露光 ,  回折角

著者キーワード (1件)： X線応力測定粗粒子二重露光法 硬シンクロトロンX線残留応力

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (11件)：

• 1) “ Standard method for X-ray stress measurement ”, JSMS-SD-10-05 (2005), The Society of Materials Science, Japan. http://x-ray.jsms.jp/standard/sample English.pdf
• 2) P.J. Withers,“ Use of synchrotron X-ray radiation for stress measurement”, in: Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation, ed. by M.E. Fitzpatrick and A. Lodini, pp. 170-189 (2003), Taylor & Francis.
• 3) S. Taira and K. Tanaka,“ Local residual stress near fatigue crack tip ”, Transactions of the Iron and Steel Institute of Japan, Vol. 19, pp. 411-418 (1979).
• 4) B.B. He and K.L. Smith, “ A new method for residual stress measurement using an area detector ”, in: Proceedings of The 5th International Conference on Residual Stresses (ICRS-5), ed. by T. Ericsson, M. Od ́en, A. Andersson, Linkoping, Sweden, pp. 634-639 (1997).
• 5) K. Suzuki, “ Proposal for a direct-method for stress measurement using an X-ray area detector ”, NDT and E International, Vol. 92, pp. 104-110 (2017).

タイトルに関連する用語 (2件)： 二重露光 ,  応力測定