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J-GLOBAL ID：202002255507150242   整理番号：20A0844732

X線自由電子レーザーナノ集光システムの開発 格子干渉計を用いたX線波面計測法の検証

著者 (12件)： 中村南美 (大阪大 大学院工学研究科) ,  松山智至 (大阪大 大学院工学研究科) ,  山田純平 (理研 播磨研) ,  井上陽登 (大阪大 大学院工学研究科) ,  大坂泰斗 (理研 播磨研) ,  湯本博勝 (高輝度光科学研究セ) ,  小山貴久 (高輝度光科学研究セ) ,  大橋治彦 (高輝度光科学研究セ) ,  矢橋牧名 (高輝度光科学研究セ) ,  矢橋牧名 (理研 播磨研) ,  石川哲也 (理研 播磨研) ,  山内和人 (大阪大 大学院工学研究科)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2020  号： 春季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.G32  発行年： 2020年03月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線自由電子レーザーは超高ピーク輝度を有しており,更なる高度利用化に向けた集光技術の発展が望まれている.極限集光の達成には集光状態の把握が必須であり,我々はTalbot効果に基づく格子干渉計を用いたX線波面計測法の開発を行っている.本手法の信頼性を実証するため,縞走査法およびフーリエ変換法による解析についての比較を行った.またチェス盤回折格子を用いた2次元一括波面計測の検討結果について報告する.(著者抄録)

シソーラス用語： 球面鏡 ,  *X線自由電子レーザ ,  *集光 ,  *波面 ,  計測 ,  X線干渉計
準シソーラス用語： Talbot干渉計 ,  計測法

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (5件)：

• H. Mimura, et al., Nat. Commun 5, 3539 (2014)
• R. Kodama et al., Opt. Lett 21, 1321 (1996)
• J. Yamada, et al., Opt. Express 27, 3429 (2019)
• S. Matsuyama, et al., Opt. Express 20, 24977-24986 (2012)
• T.Inoue, et al., Rev. Sci. Instrum 89, 043106 (2018)

タイトルに関連する用語 (9件)： X線自由電子レーザー ,  集光 ,  開発 ,  格子 ,  干渉計 ,  X線 ,  波面 ,  計測法 ,  検証