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J-GLOBAL ID：202102235522006710   整理番号：21A1664796

印加ワイヤを用いた2ch磁気センサプローブによる微小金属欠陥の検出

Detection of micro metal defects by dual-channel magnetic sensor probe with an excitation wire

著者 (6件)： 小部寛斗 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科) ,  合田悠斗 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科) ,  神原匠 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科) ,  堺健司 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科) ,  紀和利彦 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科) ,  塚田啓二 (岡山大 大学院ヘルスシステム統合科学研究科)
資料名： 表面探傷シンポジウム講演論文集
巻： 23rd  ページ： 5-6  発行年： 2020年07月06日 
JST資料番号： L7208A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 金属の欠陥検出を非破壊で検査する手法の一つとして渦電流探傷法がある.上置コイル法などの従来法に比べ,より微小な金属欠陥の検出を目的として,励起部分に局所的に磁場を印加できる単一のワイヤによる印加方式を考案することで,ミリメートル以下の欠陥検出が可能となった.しかし,センサプローブを連続的に走査すると残留磁場などの影響を受け,マッピングが困難であった.そこで,本手法では2つの磁気センサを用いて,それぞれの信号の差を取ることで残留磁場の影響を取り除くことに成功した.その結果,マッピングが可能になり,欠陥の形状および深さの判定が容易になった.(著者抄録)

シソーラス用語： *渦電流検査 ,  検出 ,  *金属 ,  *非破壊検査 ,  磁気センサ ,  プローブ ,  差分法 ,  深さ ,  穴 ,  表面欠陥
準シソーラス用語： 2ch磁気センサプローブ ,  ピット ,  渦電流探傷法 ,  *微小欠陥

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (1件)：

• K. Tsukada, H. Shobu, Y. Goda, T. Kobara, K. Sakai, T. Kiwa, and M. M. Saar, “Integrated magnetic sensor probe and excitation wire for nondestructive detection of submillimeter defects”, IEEE Magnetics Letters, December vol. 10, No. 1, pp. 8105105-1-5 (2019)

タイトルに関連する用語 (7件)： 印加 ,  ワイヤ ,  2ch ,  磁気センサ ,  プローブ ,  微小 ,  欠陥