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J-GLOBAL ID：202102265431433069   整理番号：21A3432100

JTAGのセキュリティ脅威-攻撃の現状とその対策-

JTAG Security Threats: Current Attacks and Countermeasures

著者 (3件)： Wang Senling (愛媛大学大学院理工学研究科) ,  亀山修一 (愛媛大学大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大学大学院理工学研究科)
資料名： エレクトロニクス実装学会誌  (Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
巻： 24  号： 7  ページ： 668-674(J-STAGE)  発行年： 2021年 
JST資料番号： S0579C  ISSN： 1343-9677  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・JTAGにおけるセキュリティ脆弱性とそれに伴う脅威の可能性およびその対応策としてのセキュリティ強化法を紹介。
・JTAGに関わるセキュリティ脅威は,主に外部からの脅威と内部からの脅威に分類可能。
・外部からの脅威は,権限のないユーザが,JTAG機構へのアクセス権限を取得し,機能回路に内蔵されるテストインフラ,デバッグインフラなどを悪用する攻撃。
・この攻撃に対しては,JTAGインタフェースに暗号技術を用いた認証機構を組込むことで,正しく認証できるユーザのみに対してアクセスを許可するアクセス制限方法を提案。
・内部からの脅威は,IC製造の参加者または関与者による悪質なハードウェアをICや機能回路に埋め込むことが主な原因。
・この脅威に対しては,チャレンジレスポンス認証プロトコル,あるいは,異なるアクセス権を付与する階層的認証プロトコルを提案。

シソーラス用語： *バウンダリスキャン ,  *国際規格 ,  *セキュリティ ,  サイバー攻撃 ,  危険因子 ,  暗号 ,  認証 ,  プロトコル

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (18件)：

• 1) 亀山修一:“バウンダリスキャン技術講座 第9回バウンダリスキャン規格の適用拡大と最新動向,”エレクトロニクス実装学会誌,Vol. 24, No. 1, pp. 154-161, 2021
• 2) E. Valea, M. Da Silva, G. Di Natale, M. Flottes, and B. Rouzeyre: "A Survey on Security Threats and Countermeasures in IEEE Test Standards," IEEE Design & Test, Vol. <b>36</b>, No. 3, pp. 95-116, June 2019, doi: 10.1109/MDAT.2019.2899064
• 3) ケネス・P.パーカー (著),亀山修一 (監訳):“バウンダリスキャンハンドブック,”青山社,2012年,第3版,ISBN978-4-88359-303-3
• 4) B. Yang, K. Wu, and R. Karri: "Secure Scan: A Design-for-Test Architecture for Crypto Chips," IEEE Trans. Comput. Des. Integr. Circuits Syst., Vol. 25, No. 10, pp. 2287-2293, Oct. 2006, doi: 10.1109/TCAD.2005. 862745
• 5) Open On-Chip Debugger: http://openocd.org/, accessed on 5 July 2021

タイトルに関連する用語 (6件)： JTAG ,  セキュリティ ,  脅威 ,  攻撃 ,  現状 ,  対策