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J-GLOBAL ID：202102270945229150   整理番号：21A1969442

バンド幅制御モット絶縁体NiS_2-xSe_xの分光イメージングSTM

Spectroscopic-imaging STM in band-width controll Mott insulator NiS_2-x Se_x

著者 (7件)： 安井勇気 (理研 CEMS) ,  岡崎尚太 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  宮坂茂樹 (大阪大 理) ,  花栗哲郎 (理研 CEMS) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  高木英典 (東大 理) ,  高木英典 (マックスプランク研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 76  号： 1  ページ： ROMBUNNO.12aH1-2  発行年： 2021年03月24日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： パイライト化合物NiS2は電荷移動型モット絶縁体であり、硫黄をセレンに置換することでモット絶縁体から金属へと転移し(図1(a))、バンド幅制御による金属絶縁転移を起こすと考えられている[1,2]。金属絶縁転移に際して構造相転移を伴わないため...【本文一部表示】

シソーラス用語： *絶縁体 ,  Hubbard模型 ,  *Mott転移 ,  帯域幅 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  撮像 ,  分光測光 ,  電子構造 ,  ニッケル化合物 ,  硫黄化合物 ,  セレン化物 ,  *顕微鏡観察 ,  *走査型トンネル顕微鏡法 ,  *Mott-Hubbard絶縁体
準シソーラス用語： *モット絶縁体 ,  分光イメージング

分類 (2件)： 金属-絶縁体転移  (BM02110T) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (4件)： バンド幅制御 ,  モット絶縁体 ,  分光イメージング ,  STM